x-ray 镀层测厚仪M1 ORA

M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成，分析元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。
上照式光管，光板尺寸小至0.3mm，可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析，数分钟内就可以得到结果。

样品尺寸大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测，采用光学显微镜进行准确定位。

采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多，分析结果越。可以检测含量在0.5%以上的元素

基于标样模型或无标样模型，可以鉴别和定量分析样品中的所有元素。准确度高，精度达到0.2wt%对于没有预想到的元素也能够进行分析。

黄金成色分析可以用K（开）或质量百分比（%）表示

珠宝、黄金、贵金属分析

珠宝与贵金属饰品的货币兼职不是主要由设计和制作人工决定、而是主要由合金中贵金属成分及宝石的种类和品质所决定。已知的集中合金分析方法，古老的为火练法，首先采用高密度天秤秤重一块原始金属，然后通过不同步奏（氧化和溶解）去除非金属物质，后秤重余量。但是这方法很好使，而且需破坏样品，同时也产生很多有毒污染物和气体。

X射线荧光光谱仪是非基础和非破坏性分析，同时能够得到高度测试结果的分析方法

由于珠宝首饰件通常都非常的小，又有些是采用不同贵金属组合，X射线荧光光谱仪分析过程能采用仪器内的准直器将激发的X射线集中于一小点，闫策样品成分。

X射线荧光光谱仪测量可广泛适用于大量的黄金合金系列，可测量材料包括金、银、铜、钯、铂、铑等贵金属元素

黄金成分范围35%（8克拉/K）~100%（24克拉/K）

适用于：白金、黄金、铂合金、银合金，分析精度优于0.2%

M1ORA是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪（μ-XRF），结构紧凑、占用空间小。

技术规格：

光源微焦斑光管，钨靶，玻璃窗

电压、功率40KV、40W

探测器大面积正比计数器1100mm²感应面积

光斑尺寸0.3-1.0mm准直管（出厂时设定）

样品观察高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍

样品台手动剪式样品升降台

定量分析基于标准样品的经验模型

基于基本参数法的无标准模型

电源：230V/500Hz,100W

尺寸：355×330×330mm

重量：26公斤