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2024年04月25日 星期四

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  • 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO

  • 更新时间:2018-01-12
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微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的方法。

M4 TORNADO采用了全新的技术,为各种用户提供了佳的分析性能和非常方便的操控性。
采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑小,空间分辨率高。
涡轮增速X-Y-Z样品台,借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像,可在飞行中进行元素分布分析。
高强度的X射线光管与多导毛细管聚焦镜相结合,确保在非常小的照射区域内获得非常高的激发强度。采用滤光片和可以同时使用的配有不同靶材的双光管,可以根据不同的分析要求,优化激发光谱。
使用XFlash®探测器速地获取样品图谱,另外,使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
采用无标样分析法定量分析块状样品,分析多层膜样品。
可抽真空的样品室配有自动门,大尺寸的样品室可以放置各种尺寸的样品。通过两个放大倍数可变的摄像系统观察样品(整体观察和分析区域的细致观察),便捷进样功能和自动对焦功能可以进行快速而的定位。通过用户编辑的X-Y-Z样品台运行程序可实现重复测量。


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